Strana 38 z 63

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 13 Feb 2016, 14:24
od používateľa Dan328p
Strucny popis jednotlivych variant firmwaru je v subore "Index.nfo" (sucast archivu).
Právěže tam jsem našel pouze "SamplingADC" či "Long Wait Time", čili rozepsání zkratek, ale nic podrobnějšího.

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 13 Feb 2016, 15:48
od používateľa fandapro
Dan328p napísal:Kde prosím najdu schéma (příp. plošňák) testeru s encodérem? Nějak to nemohu najít. A ještě jeden dotaz - co znamená LWT8 a SADC? Nemyslím zkratky, ale popis odlišností testeru od standardní verze, příp. schéma té které varianty, apod. Když totiž rozbalím firmware, je tam spousta variant, ale co která znamená, to netuším. Díky.
tady je popis možností http://www.avrtester.tode.cz/index.php?m=topic&id=510
a tady co znamenají zkratky http://www.avrtester.tode.cz/index.php?m=topic&id=499

LWT 8 Long wait time 8 doba měření 8 sekund
S ADC Samling = vzorkování
při testovani C a L je využívána nova metoda zvyšující přesnost a rozsah testování
S ADC Sampling ADC vzorkování ADC se využívá např. při měření C pod 25 pF s přesností 0,02 pF :butthead:

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 13 Feb 2016, 16:13
od používateľa tom666
@Dan328p
Uvedene skratky som pouzil (vymyslel) za ucelom jednoduchsieho rozlisenia verzii firmwaru:
Standart = standartna verzia
Disabled Power Off (DPO) = zakazana funkcia automatickeho vypnutia
Long Wait Time = 8s (LWT8) = zobrazenie vysledku testovania 8s
Sampling ADC (SADC) = pri testovani C a L je vyuzivana nova metoda zvysujuca presnost a rozsah testovania (popis v oficialnom manuali)
Encoder13 (ENC13) = aktivovane ovladanie rotacnym enkoderom zapojenym na portoch PD1 a PD3 (popis zapojenia v oficialnom manuali)

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 13 Feb 2016, 18:19
od používateľa Dan328p
Děkuji za vysvětlení.

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 14 Feb 2016, 17:28
od používateľa mclareniak
Ahojte

Rozmyslam kupit toto. Co vy na to?

Dik

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 14 Feb 2016, 19:08
od používateľa Loloone
komplet aj s krabickou, super :-) co dodat?

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 14 Feb 2016, 19:44
od používateľa staffy
Ty brďo, dobré prachy, za to sa už fakt neoplatí pripravovať v EU žiadnu stavebnicu.

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 15 Feb 2016, 22:37
od používateľa Soulius
Ten ZIF socket a SMD pady jsou tam potom k čemu? Mě osobně přijde ZIF socket užitečnější než ten pochybný konektor na krabičce. Jinak tu stavebnici (bez krabičky) mám - doporučuji. Kupoval jsem tady. Pokud to chceš mít v krabičce - dá se to vymyslet určitě lépe.

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 16 Feb 2016, 22:23
od používateľa tom666
Od revizie 630 vyvojovej verzie softwaru 1.12k je implementovane (Pieter-Tjerk de Boer - pa3fwm) testovanie keramickych rezonatorov a krystalov v rozsahu 1 MHz az 13 MHz. Testovanie funguje vyhradne iba na portoch TP1 a TP3.

Pri testovani krystalu su zobrazene nasledujuce hodnoty (vid. prilozene obrazky 2 a 3):
Cm = parazitna kapacita - hodnota v fF (1 femtofarad = 0.001pF)
ser = seriova rezonancna frekvencia
par = paralelna rezonancna frekvencia

Pokial je testovany keramicky rezonator je zobrazena iba rezonancna frekvencia (vid. prilozeny obrazok 1).

Pre zabezpecenie tejto novej funkcionality je potrebne zdvojnasobit taktovanie MCU na 16 MHz vymenou krystalu a spravit potrebne upravy v subore "makefile":
* pridat riadok CFLAGS += -DWITH_XTAL
* zmenit riadok OP_MHZ = 8 na OP_MHZ = 16

Nastavenie poistiek pre M328 zostava nezmenene:

Kód: Vybrať všetko

lfuse:0xf7 hfuse:0xd9 efuse:0x04 (0xfc)

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 18 Feb 2016, 19:01
od používateľa schusterj
Tak jsem si nechal vyrobit DPS, dle mých předloh-oboustranné prokovené, protože se mi moje prototyp DPS velice osvědčila.Nechal jsem si také vyrobit i desky na displeje řady DEM128064 s řadičem ST7565R, kde jsem vyvedl i pin CS, který se dá v případě nevyužití uzemnit-vše je na desce připravené a popsané.....Vše by mělo jít vidět s foto.Při zasílání podkladů se mi vloudila chybička a na desku displeje jsem napsal ST7656R :? , ale na funkci to vliv nemá :biggrin: :biggrin: :biggrin:

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 18 Feb 2016, 20:33
od používateľa fandapro
Od revizie 630 vyvojovej verzie softwaru 1.12k je implementovane měřění krystalů Pieter-Tjerk de Boer - pa3fwm
tom666 děkuji za verzi 642 !!!!! pro LCD 1602 Xtal 16 MHz M328 pro měření krystalů
děkuji tom666 za rychlé řešení našich problémů . Děkuji všem a zvláště tom 666
fandapro@seznam.cz :potlesk:
funguje to i s jinými krystaly , ale pak by to chtělo upravit řádek 8 na 16 nebo 12 nebo 25 MHz,
zmenit riadok OP_MHZ = 8 na OP_MHZ = 16 nebo 12 nebo 25
aby se to nemuselo přepočítávat , byl by někdo schpen to upravit na jiné krystaly ? Děkuji všem !
Děkuji ace1x za CZ mutaci verze 1.12k-R647 s kompletními funkcemi, včetně měření krystalů pro 2x16 grafický display.

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 18 Feb 2016, 21:07
od používateľa tom666
Je mi to luto, ale software s novou funkciou "WITH_XTAL" pre tester s klasickym znakovym displejom nie je momentalne k dispozicii. Dovodom je chyba v zdrojovom kode.

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 19 Feb 2016, 13:18
od používateľa tom666
Kto ma chut testovat, tak v prilohe je nova revizia s "WITH_XTAL" urcena pre tester so znakovym LCD (2x16).

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 19 Feb 2016, 13:24
od používateľa dan21
4x20 by nebola ? :-)

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 19 Feb 2016, 13:30
od používateľa tom666
Bola :)

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR & Semiconductors Tester)

Napísané: 19 Feb 2016, 13:33
od používateľa dan21
Diky !!! vecer budem testovat !!!

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR, XTAL & Semiconductors Tester)

Napísané: 23 Feb 2016, 19:12
od používateľa Yenki
v1.12k_r642_M328_16MHz_2x16_MENU.zip a bylo by to i v CZ ?
Díky

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR, XTAL & Semiconductors Tester)

Napísané: 24 Feb 2016, 15:10
od používateľa ace1x
Tak tady je verze 1.12k-R647 česká s kompletními funkcemi, včetně měření krystalů pro 2x16 grafický display.

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR, XTAL & Semiconductors Tester)

Napísané: 25 Feb 2016, 18:10
od používateľa dan21
@tom666: diky za verziu, ale som si uvedomil ze ja mam hw verziu od killerX3 a tam je treba urobit aj nejake zmeny v config.h.
Takze som si build-ol vlastnu verziu. Musel som vypnut nejake veci aby sa mi s novou funkcionalitou zmestilhex do MCU (m328p).
Kedze Q meriam tak raz za rok, prehodil som to znovu na "staru" verziu 1.12k.
Diky este raz

Re: AVR Component Tester (RLC/ESR, XTAL & Semiconductors Tester)

Napísané: 25 Feb 2016, 19:51
od používateľa tom666
dan21 napísal: ... Musel som vypnut nejake veci aby sa mi s novou funkcionalitou zmestil hex do MCU (m328p). Kedze Q meriam tak raz za rok, prehodil som to znovu na "staru" verziu 1.12k.
Skusal som kompilaciu so zapnutymi vsetkymi funkciami a no problem :wink:

Kód: Vybrať všetko

16 MHz operation configured.
AVR Memory Usage
----------------
Device: atmega328p

Program:   28952 bytes (88.4% Full)
(.text + .data + .bootloader)

Data:        211 bytes (10.3% Full)
(.data + .bss + .noinit)

EEPROM:      889 bytes (86.8% Full)
(.eeprom)
V prilohe komplet verzia pre variant "killerX3".