Strucna charakteristika pristroja (plati pre MCU ATmega328 s najnovsim softwarom).
Pristroj obsahuje tri meracie (testovacie) vstupy prostrednictvom ktorych:
Testuje a automaticky detekuje:
- NPN a PNP tranzistory
- N-channel a P-channel MOSFET
- JFET
- diody a LED (vratane dvojitych)
- zenerove diody do 4V
- triaky
- tyristory
- odpory (0,01Ω az 50MΩ)
- kondenzatory (25pF az 100mF) + meranie ESR od 90nF
- indukcnost (0,01mH az 20H)
+
- testovanie malych kapacit (<100pF) s rozlisenim 0.01pF
- testovanie kondenzatorov 2μF az 50mF priamo v obvode - funkcia "C+ESR@TP1:3"
- separatne meranie C, R (rezim sa aktivuje automaticky pri testovani na TP1 a TP3)
- generovanie pulzov s nastavitelnou sirkou 1% az 99% (vystup na TP2) - funkcia "10-bit PWM"
- testovanie keramickych rezonatorov a krystalov v rozsahu 1 MHz az 13 MHz (TP1 a TP3)
S HW doplnkami funguje:
- meranie frekvencie - rozsah 1Hz az 25kHz (vstup na PD4)
- generator frekvencie od 1Hz do 2MHz - vystup na TP2 / PB2
- meranie jednosmerneho napatia do 50V (nutny napatovy delic 10:1 / PC3)
- meranie zenerovych diod nad 4V
- ovladanie rotacnym enkoderom
Poznamky:
* Vsetky kondenzatory musia byt pred testovanim vybite, inak hrozi poskodenie MCU. Velmi dolezite to je pre meranie kondenzatorov zapojenych v obvode.
* Tyristory a triaky mozu byt detekovane iba v pripade, ze testovaci prud (len asi 6 mA) je nad pridrznym prudom (Igt).
* Podobne moze byt spravne detekovany IGBT, ak je testovacie napatie 5V dostatocne pre ovladanie gatu.
Kalibracia (pre software do verzie 1.08k):
Spusti sa pri vzajomnom prepojeni vsetkych (troch) testovacich pinov a naslednym stlacenim tlacidla "test". Pocas celeho procesu kalibracie je potredne zabezpecit, aby nedoslo k neziaducemu dotyku ktorehokolvek testovacieho pinu, alebo meracieho kablu. V stvrtom kroku treba odpojit vsetky meracie sondy. V poslednej faze treba na vyzvanie textom ">100nF" vlozit medzi piny 1 a 3 kondenzator s hodnotou medzi 100nF az 20µF. S tymto kondezatorom bude napatovy offset analogoveho komparatora kompenzovany pre presnejsie meranie kondenzatorov.
Kalibracia:
Spusti sa pri vzajomnom prepojeni vsetkych (troch) testovacich pinov a naslednym stlacenim tlacidla "test". Rezim kalibracie treba potvrdit dlhsim (2s) pridrzanim stlaceneho tlacitka "test", inak pristroj pokracuje v normalnej cinnosti merania. Pocas celeho procesu kalibracie je potredne zabezpecit, aby nedoslo k neziaducemu dotyku ktorehokolvek testovacieho pinu, alebo meracieho kablu. V stvrtom kroku treba odpojit vsetky meracie sondy. V poslednej faze treba na vyzvanie textom ">100nF" vlozit medzi piny 1 a 3 kondenzator s hodnotou medzi 100nF az 20µF. S tymto kondezatorom bude napatovy offset analogoveho komparatora kompenzovany pre presnejsie meranie kondenzatorov. Pre ADC meranie s pouzitim interneho referencneho napatia sa navyse upravi zisk pre presnejsie meranie odporov s moznostou AUTOSCALE ADC.
Plna kalibracia:
Od novsej verzii softwaru 1.11k je mozne funkciu kalibracie vyvolat priamo z menu. Toto kalibrovanie je komplexnejsie.
Zapojenie:
V prilohe tohoto prispevku je zakladne zapojenie testera upraveneho Karl-Heinz Kübbelerom, ktore neobsahuje pomocny tranzistorovy (PWR) obvod zabezpecujuci zapnutie a zaroven aj automaticke vypnutie prostrednictvom tlacitka "Test" a MCU. Cervene casti nie su potrebne, ale mozu zlepsit presnost merania. Casti oznacene zelenou farbou su zmeny oproti povodnemu navrhu Markusa Frejeka.
Poznamka k zdroju referencneho napatia 2.5V:
Opodstatnenost pouzitia zdroja ref. napatia 2.5V ma vyznam iba v pripade, ak je 10x presnejsi ako 5V regulator napatia, pretoze v opacnom pripade to moze sposobit horsie vysledky merania. Ak sa na pozicii stabilizatora 5V pouzije MCP1702 s typickou odchylkou 0,4% je pouzitie referencie 2.5V zbytocne!
Odkazy:
Verzie firmwaru (v1.13k r744) pre tester vo variantach G-LCD KIT (ST7565 / 128x64), TFT KIT (Color ST7735 / 128x160) a LCR-T3, T4 (ST7565 / 128x64).
Povodna stranka projektu - "AVR-Transistortester" (Markus Frejek).
Vylepsena verzia meraca (Karl-Heinz Kübbeler).
Diskusne forum Karl-Heinz Kübbelera (rozne upravy a navrhy PCB).
SVN archiv - vsetky verzie softveru a dokumentacie (mirror)
Postup stahovania obsahu z oficialneho SVN archivu:
Prostredníctvom svnbrowsera je možné kliknutím na odkaz "Download GNU tarball" stiahnuť kompletný obsah aktuálne zobrazeného adresára.
Na rozbalenie stiahnutého súboru transistortester*.tar.gz pod systémom Windows je možné použiť bezplatný software 7-Zip. Po extrahovaní je na lokálnom PC k dispozícii kópia vybraného adresára. Priamy prístup k jednotlivým súborom SVN archívu cez svnbrowser nie je možný!
Alternatívnym spôsobom prístupu k SVN archívu je inštalácia a použitie pluginu TortoiseSVN pre Windows Explorer. Potom je možné pristupovať k dátam prostredníctvom odkazu:
[url]svn://mikrocontroller.net/transistortester[/url]
Užívatelia systému Linux môžu k SVN dátam pristupovať priamo.
Aktualna verzia softwaru (vratane zdrojovych kodov)
Dokumentacia (ENG)
Pre upravu a kompilaciu zdrojoveho kodu v prostredi OS MS Windows doporucujem pouzit WinAVR. Riesenim problemov s kompilaciou sa zaobera tento prispevok. Detaily ohladom moznosti uprav su uvedene v kapitole "Configuring the TransistorTester" a v komentoch suboru "Makefile". K samotnemu fyzickemu naprogramovaniu MCU je mozne pouzit popularny USBasp programator.
Poznamka k uprave zdrojoveho kodu:
Predvolene hodnoty doby zobrazenia je mozne zmenit v subore "config.h". Jedna sa o definovane hodnoty "LONG_WAIT_TIME" a "SHORT_WAIT_TIME" uvedene v ms (aktualne 28000 ms a 5000 ms).
EEVblog Electronics Community Forum
Клоны тестера Markus Reschke и Karl-Heinz K, китайские виды сборок модинг и прошивка
Tester je na ebay v ponuke v niekolkych variantach. Upravou HW a SW sa zaoberaju nasledujuce prispevky:
Simple edition
Booster edition v2.2
Upgrade firmweru pre Fish8840 Tester
Upgrade firmwaru pre LCR-T3 & LCR-T4 Transistor Tester
Krabicka pre LCR-T3 Tester z obalu magnetofonovej kazety
Obal pre LCR-T3 Tester vytlaceny na 3D tlaciarni
M328 ST7565 KIT
M328 TFT ST7735 KIT - dokumentacia
M328 TFT ST7735 KIT - firmware
Podklady k vyrobe (DIY):
moje varianty bez PWR obvodu:
SCT v1.7
VSCT v1.0
pri navrhu tejto verzie som vychadzal z podkladov od Asko B.:
Component Tester v10.04.2013 - DPS podklady, osadzovak + schema, obrazky
Uprava pre napajanie z Li-Ion baterie (3.7V)
Asko B. variant by "pberki".
navrhy PCB od Asko B.
Мультитестер ЭРЭ с AVR микроконтроллером, Универсальный помощник радиолюбителя
Component Tester (Claudiu Radu)
AVR tester transistorů, součástek a užitečný pomocník (BorgMcz)
Uniwersalny tester elementów na AVR
Transistor Tester, tak trochu inak ... od AM (napajanie z tuzkovych baterii).
version by PY2BBS
verzia od "ecat" - subor "ecat-AVRTransistorTester-v2.zip" v prilohe prispevku.
OSH Park - AVR Tester by jrabone
killerX3 variant v1.2
Uprava killerX HW pre pouzitie novej verzie softwaru od Karl-Heinz Kübbelera.
DL1MFK - DER Transistor-Tester
Tester poluprovodnika - KesatNet
AVR-Transistortester - RoboTrack
GM328 EZM Tester s G-LCD (kopia)
strip verzia
strip verzia bez PWR obvodu (by serisman)
SMD variant od PaJa-trb
OSH Park - AVR Based Transistor Tester by Frenchie (SMD)
verzia z Funk Amaterur 11/2013 (SMD):
Info + pdf dokumentacia
Podklady (HW/SW/DOC)
SMD sonda
SMD verzia (DIP MCU) s DOGM LCD od Moritz A.:
Link 1
Link 2
Link 3
SMD verzia - Torbens Elektronik
SMD verzia - ferdinandkeil.com
Firmware:
Nastavenie poistiek MCU:
ATmega168, ATmega168p:
Kód: Vybrať všetko
RC 8Mhz - lfuse:0xe2 hfuse:0xdc efuse:0x01 (0xf9)
krystal 8Mhz - lfuse:0xf7 hfuse:0xdc efuse:0x01 (0xf9)
Kód: Vybrať všetko
RC 8Mhz - lfuse:0xe2 hfuse:0xd9 efuse:0x04 (0xfc)
krystal 8Mhz - lfuse:0xf7 hfuse:0xd9 efuse:0x04 (0xfc)